雙用單站測(cè)試分類機(jī)
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產(chǎn)品名稱: 雙用單站測(cè)試分類機(jī)
產(chǎn)品型號(hào): Model 3110
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
是一臺(tái)雙用單站的 Pick & Place 測(cè)試分類 機(jī)，支援各種不同類型封裝的晶片， QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分 類機(jī)運(yùn)用 Pick & Place 技術(shù), 將待測(cè)晶片由進(jìn)料艙 移至測(cè)試區(qū)，再依測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分類。3110 不 但適用于系統(tǒng)功能檢測(cè)，也同時(shí)具備終端電性測(cè) 試的能力。可綜合各元件的整體效能并執(zhí)行測(cè)試 系統(tǒng)上的所有測(cè)試程式，旨在提供一個(gè)全能的解 決方案。
雙用單站測(cè)試分類機(jī)
的詳細(xì)介紹
主要特色：
- 雙用單站測(cè)試分類機(jī)
- 適用于終端測(cè)試或系統(tǒng)功能測(cè)試
- 自動(dòng)進(jìn)料出料艙的配置及依測(cè)試結(jié)果自動(dòng)分類的功能
- 測(cè)頭內(nèi)建氣室，可吸收及減緩下壓觸力的沖擊
- 智能型的載盤IC殘留偵測(cè)
- 可選配的三溫控制系統(tǒng) (-40~135℃)
- 可選配的高功率冷卻系統(tǒng)
- 理想的產(chǎn)品工程或研發(fā)實(shí)驗(yàn)設(shè)備機(jī)，可自動(dòng)搜集與分析測(cè)試、實(shí)驗(yàn)結(jié)果的數(shù)據(jù)支援的晶片尺寸從 3x3mm 到 55x55mm，配備有 自動(dòng)進(jìn)出料分類艙及手動(dòng)分類盤，可*優(yōu)化工程 測(cè)試的實(shí)驗(yàn)數(shù)量。簡(jiǎn)易操作的操控畫面，及適配 性高的testers連接介面，大幅提升機(jī)臺(tái)的使用率 及共用性。除此之外，它能針對(duì)不同的測(cè)試環(huán)境 條件，提供數(shù)個(gè)溫控系統(tǒng)的選擇，如三溫控制系 統(tǒng)、高功率冷卻系統(tǒng)等，測(cè)試的環(huán)境溫度可設(shè)置 于常溫、高溫或低溫。
